芬兰便携式残余奥氏体分析仪

芬兰便携式残余奥氏体分析仪可、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力和残余奥氏体测量。

当X射线照射铁素体和奥氏体时会产生衍射，其衍射峰的强度与各相体积分数成正比，因此通过各衍射峰的强度对比可以分析计算出残余奥氏体的百分含量。Xstress 残余应力分析仪采用四峰法自动测量残余奥氏体含量，精度优于1%。相比较于传统的金相法等手段，四峰法具有无损、快速和精确等特性。

芬兰便携式残余奥氏体分析仪主要应用领域：航天、航空、汽车制造、3D打印材料、船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。

便携式残余奥氏体分析仪
◆ 系统： Windows
◆ X射线的发生和控制
◆ 实时监控高压系统
◆ 多种X射线模式
◆ 可同时进行测量、计算和其它功能
◆ 多点d-sin²Ψ模式，互相关法计算峰位移
◆ 丰富的材料数据库
◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内

芬兰便携式残余奥氏体分析仪测角仪

◆ 倾斜和旋转
◆ 改进的y几何（侧倾法）
◆ 对称安装的双探测器
◆ 连续可调的2q角范围：110-171度
◆ 多种准直器可换，直径从Φ1到Φ5，包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至小
◆ 全自动校准，自动调整合适测距，行程误差小于0.003mm